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시료의 입자 크기 측정용 장치
| 특허명 | 시료의 입자 크기 측정용 장치 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2019년 12월 3일 |
| 공개일 | 2021년 6월 11일 | 공고일 | 2021년 6월 18일 |
| 요약 |
본 발명은 저온에서 입자 크기를 측정하기 위한 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 냉매를 포함하는 냉매 탱크; 상기 냉매 탱크와 열적으로 연결되는 열전도판; 및 상기 열전도판에 위치하는 나노 안테나를 포함함으로써, 나노 안테나 상부에 위치하는 측정대상 시료에 대한 빛의 투과 정도를 확인할 수 있고, 시료의 물리적인 성질을 예측할 수 있다.
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