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구조 조명과 위상 검출을 이용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법
| 특허명 | 구조 조명과 위상 검출을 이용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단|기초과학연구원 | 출원일 | 2017년 10월 18일 |
| 공개일 | None | 공고일 | 2019년 3월 18일 |
| 요약 |
구조 조명과 위상 검출을 이용한 단분자 중심위치 측정 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명은, 레이저 광을 주기적 패턴을 갖는 구조 조명으로 성형하고, 구조 조명의 위상을 변화시키면서 단분자에서 방출된 광 신호를 수신하여 단분자의 중심 위치를 측정한다. 본 발명에 따르면, 주기적인 패턴을 특정 간격으로 이동시키면서 패턴과 단분자 간 거리에 따라 형광 세기가 주기적으로 변하는 패턴의 위상을 측정하여 해당 단분자의 중심위치를 측정할 수 있고, 낮은 광자로 단분자의 중심 위치의 정확도를 향상시킬 수 있으며, 이로 인해 이미지의 해상도를 향상시킬 수 있다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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