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엑스레이 검출방법 및 엑스레이 검출기
| 특허명 | 엑스레이 검출방법 및 엑스레이 검출기 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2010년 10월 29일 |
| 공개일 | None | 공고일 | 2011년 5월 20일 |
| 요약 |
본 발명에 따른 엑스레기 검출방법은, 조사되는 엑스레이에 의해 가스가 이온화되는 전하를 생성하는 단계; 상기 가스에 전기장을 인가하는 단계; 상기 가스로부터 생성된 전하를 수집하는 단계; 상기 전기장의 인가시점으로부터 상기 전하가 수집되기 시작하는 시점 사이의 시간을 측정하는 단계; 및 상기 측정된 시간을 기반으로 엑스레이 이미지를 생성하는 단계를 포함한다.
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