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내방사선 아날로그-디지털 변환 회로 및 디지털 신호 보상 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 기록 매체
| 특허명 | 내방사선 아날로그-디지털 변환 회로 및 디지털 신호 보상 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 기록 매체 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2018년 4월 12일 |
| 공개일 | None | 공고일 | 2018년 8월 8일 |
| 요약 |
본 발명은 외부 영향을 받거나 반도체 소자 성능이 변할 때 이에 견고한 내방사선 아날로그-디지털 변환 회로 및 디지털 신호 보상 방법, 상기 방법을 수행하기 위한 기록 매체에 관한 것으로, 단일 이벤트 효과로 인한 영향을 줄일 수 있도록 복수 개의 스위치드 캐패시터가 샘플 페이즈 또는 홀드 페이즈에 대응하여 스위칭 동작하는 샘플 앤드 홀드; 상기 샘플 앤드 홀드가 비-반전입력단자(+단자)에 연결되며, 누적방사선량 효과에 의해 변하는 회로 성능을 보상할 수 있도록 제1 단의 비교기를 가변저항으로 모델링한 비교기 회로; 및 상기 비교기 회로의 반전입력단자(-단자)와 축차 비교 레지스터 로직 사이에 직렬로 연결되며, 외부 레퍼런스 전압을 통해 누적방사선량 효과에 의한 상기 비교기의 오프셋을 계산하며, 보상 저항을 통해 계산된 오프셋을 제거하는 저항 기반 디지털-아날로그 컨버터를 포함한다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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