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층상 구조를 가지는 2차원 물질의 저항 측정 방법 및 장치
| 특허명 | 층상 구조를 가지는 2차원 물질의 저항 측정 방법 및 장치 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2018년 4월 19일 |
| 공개일 | 2019년 10월 29일 | 공고일 | 2020년 4월 16일 |
| 요약 |
본 발명은 측정 대상물의 저항을 측정하는 저항 측정 방법에 관한 것이다. 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 측정 방법은, 제 1 상부 전극 및 제 2 상부 전극이 서로 일정 거리로 이격되어 상기 측정 대상물의 상면에 접촉되도록 제공되고, 제 1 하부 전극 및 제 2 하부 전극이 서로 일정 거리로 이격되어 상기 측정 대상물의 저면에 접촉되도록 제공되며, 상기 제 1 상부 전극, 상기 제 2 상부 전극, 상기 제 1 하부 전극 및 상기 제 2 하부 전극 중 두 전극 간의 저항값 중 일부 또는 전부를 측정하는 저항 측정 단계와; 이 후, 상기 저항 측정 단계에서 측정된 저항값 중 일부 또는 전부를 이용해 연산하여 상기 측정 대상물의 저항값을 도출하는 연산 단계를 포함한다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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