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막오염 지수 측정장치
| 특허명 | 막오염 지수 측정장치 | ||
| 출원인 | 한국건설기술연구원|고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2008년 11월 21일 |
| 공개일 | 2010년 5월 31일 | 공고일 | 2011년 1월 13일 |
| 요약 |
본 발명은 역삼투막 또는 나노 여과막을 이용하는 수처리 공정에서 친수성 및 소수성 입자물질 및 콜로이드, 유기물 등에 의한 막의 오염현상을 사전에 예측하기 위한 막오염 지수 측정장치에 관한 것으로서, 친수성 정밀 여과막과 소수성 정밀 여과막 및 한외 여과막 등 다수 개의 다른 여과막을 조합하여 역삼투 또는 나노 여과막 여과공정의 유입수 내에 존재하는 다양한 종류의 막오염 물질의 막오염 세기를 정량화할 수 있게 구성한 막오염 지수 측정장치를 제공하는 데 그 목적이 있다. 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 막오염 지수 측정장치는 막오염 지수를 측정하고자 하는 원수가 유입된 후 배출되며, 다른 특성의 여과막들이 각각 장착되어 원수가 각각의 여과막을 통과하도록 장착된 복수 개의 여과막 홀더들과, 상기 여과막 홀더로 상기 원수가 유입되도록 상기 여과막 홀더에 연결된 유입관에 설치되어 유동하는 원수의 압력을 측정하는 압력계와, 상기 여과막 홀더에서 배출되는 원수의 유량을 측정하는 유량계 및, 상기 압력계와 상기 유량계로부터 정보를 수집하여 설치된 해석 프로그램을 이용하여 막오염 지수를 연산하는 컴퓨터를 포함하는 것을 기술적 특징으로 한다. 막오염, 지수, 측정장치, 부유물, 원수, 여과막, 여과막 홀더
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관련 특허
| 특허명 | 출원일 | ||
|---|---|---|---|
| 여과막 오염 지수 예측 장치 | 2010년 2월 1일 | ||
| 역삼투를 이용한 수처리 장치 | 2016년 12월 29일 | ||
| 고염 대응 담수화 장치 | 2020년 4월 1일 | ||
| 분리막 역세척이 가능한 수처리 시스템 | 2019년 5월 27일 | ||
| 뇌 영역 간 연결 강도에 기초하는 뇌-컴퓨터 인터페이스 성능 예측 장치 및 방법 | 2020년 2월 14일 | ||
