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변형률계를 구비한 온도 보상 로드 셀
| 특허명 | 변형률계를 구비한 온도 보상 로드 셀 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2010년 3월 18일 |
| 공개일 | 2011년 9월 26일 | 공고일 | 2012년 9월 3일 |
| 요약 |
본 발명은 변형률계를 구비한 온도 보상 로드 셀에 관한 것으로서, 한 쌍의 변형률계를 포함하고, 외력의 영향을 받는 외력 측정부 및 외력이 가해지지 않는 부분에 형성되고, 다른 한 쌍의 변형률계를 포함하는 온도 보상부를 포함하고, 한 쌍의 변형률계와 다른 한 쌍의 변형률계로 휘트스톤 브리지 회로를 구성하여 외력에 의한 변형량 측정시에 온도를 보상하는 것을 특징으로 하며, 로드 셀을 이용하여 탄성체의 스트레인(인가 하중)을 측정하는 경우, 온도에 의한 영향을 제거할 수 있으므로 스트레인 측정의 정확성을 제고 내지는 담보할 수 있다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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