특허명 | 낮은 샘플링 주파수를 사용하는 복수의 전압 계량기를 포함하는 주파수 측정 장치 및 그것을 포함하는 가전기기 모니터링 시스템 | ||
출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2018년 1월 12일 |
공개일 | 2019년 7월 22일 | 공고일 | 2019년 7월 29일 |
요약 |
본 발명에 따른 분전반으로부터 전력을 공급받는 복수의 기기들의 사용 전압 신호를 측정하는 주파수 측정 장치는 상기 기기들에 연결된 내부 배선 상의 특정 위치에서 상기 사용 전압 신호를 제1 샘플링 주파수에 기초하여 측정하고, 상기 제1 샘플링 주파수에 따라 측정된 제1 전압 신호를 주파수 영역으로 변환하여 제1 피크 주파수 스펙트럼을 생성하는 제1 계량기, 상기 특정 위치에서 상기 제1 계량기와 동기하여 상기 사용 전압 신호를 상기 제1 샘플링 주파수와 다른 제2 샘플링 주파수에 기초하여 측정하고, 상기 제2 샘플링 주파수에 따라 측정된 제2 전압 신호를 주파수 영역으로 변환하여 제2 피크 주파수 스펙트럼을 생성하는 제2 계량기, 그리고 상기 제1 및 제2 피크 주파수 스펙트럼에 기초하여 상기 사용 전압 신호에 포함된 원래의 피크 주파수 패턴을 추출하는 피크 연산부를 포함하되, 상기 제1 및 제2 샘플링 주파수는 상기 원래의 피크 주파수 패턴에 포함된 피크 주파수들 중 하나의 2배보다 작다.
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특허명 | 출원일 | ||
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