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샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템
| 특허명 | 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단|기초과학연구원 | 출원일 | 2018년 10월 4일 |
| 공개일 | 2020년 4월 16일 | 공고일 | 2020년 9월 11일 |
| 요약 |
본 발명은 샘플 내의 타겟 오브젝트를 측정하기 위한 고속 이미징 시스템에 관한 것으로, 평면파를 조사하는 광원부와, 상기 광원부로부터 조사되는 상기 평면파의 각도를 조절하는 각도 조절 미러와, 상기 각도 조절 미러에 의해 각도가 조절된 상기 평면파를 참조파와 샘플파로 분할하고, 기준 미러로부터 반사되는 상기 참조파와 상기 타겟 오브젝트로부터 반사되는 상기 샘플파 간의 간섭에 의한 간섭파를 형성하는 광학 간섭계와, 상기 간섭파를 획득하는 카메라 모듈과, 상기 각도 조절 미러가 상기 평면파의 각도를 순차적으로 조절하도록 제어하고, 각각의 각도의 상기 평면파에 대응하여 상기 카메라 모듈에 의해 획득되는 간섭파를 이용하여 시분해 반사 행렬을 생성하고, 상기 시분해 반사 행렬에 기초하여 상기 타겟 오브젝트를 이미징하는 이미징 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 이에 따라, 속도가 느린 공간 광 변조기를 대신하여 2축 갈바노미터 스캐닝 미러와 같은 각도 조절 미러를 이용하여 빠른 측정 속도로 생체 조직과 같은 매질 내부에 있는 타겟 오브젝트의 고해상도 이미지를 획득할 수 있다.
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관련 특허
| 특허명 | 출원일 | ||
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