특허명 | 기계 학습 기반의 자동 결함 분류 방법 | ||
출원인 | 에임시스템 주식회사|고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2018년 6월 20일 |
공개일 | 2019년 12월 30일 | 공고일 | 2020년 9월 9일 |
요약 |
본 발명에 따른 기계 학습 기반의 자동 결함 분류 방법은, 결함 유형이 알려진 샘플 이미지들을 준비하는 단계; 상기 샘플 이미지들 각각에 대하여, 샘플 이미지로부터 소정의 전처리 과정을 통해 서로 다른 제1 내지 제N(여기서 N은 2 이상의 자연수) 이미지를 획득하고, 상기 제1 내지 제N 이미지 각각으로부터 데이터 증강(data augmentation)을 통해 제1 내지 제N 이미지 세트를 획득하는 단계; 상기 샘플 이미지들에 대하여 획득된 제1 내지 제N 이미지 세트 각각에 대하여, 제n(n=1, ..., N) 이미지 세트를 학습 데이터 입력으로 하고 해당 샘플 이미지의 결함 유형을 학습 데이터 출력으로 하여 기계 학습을 수행하여 제n 결함 분류 모델을 생성함으로써, 제1 내지 제N 결함 분류 모델을 생성하는 단계; 및 대상 이미지를 입력받아, 상기 제1 내지 제N 결함 분류 모델을 이용하여 상기 대상 이미지의 결함 유형을 분류하는 단계를 포함한다.
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특허명 | 출원일 | ||
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