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유기발광다이오드 패널 검사 방법
| 특허명 | 유기발광다이오드 패널 검사 방법 | ||
| 출원인 | 엘지디스플레이 주식회사|고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2010년 12월 31일 |
| 공개일 | 2012년 7월 10일 | 공고일 | 2017년 9월 19일 |
| 요약 |
본 발명은 유기발광다이오드 패널의 품질을 검사하는 방법에 관한 것으로서, 증착공정을 마친 유기발광다이오드 패널에 대한 봉지 공정 수행 전 또는 그 이후에, 노이즈 측정 방법을 이용한 유기발광다이오드 패널에 대한 검사공정을 수행하여, 유기발광다이오드 패널의 품질을 검사할 수 있는, 유기발광다이오드 패널 검사 방법을 제공하는 것을 기술적 과제로 한다. 이를 위해, 본 발명에 따른 유기발광다이오드 패널 검사 방법은, 유기발광다이오드 패널의 노이즈 특성과 수명과의 상관관계에 대한 정보를 포함하는 룩업테이블을 저장하는 단계; 및 증착 공정이 수행된 유기발광다이오드 패널에 대하여 노이즈를 측정하며, 그 결과를 상기 룩업테이블과 비교하여, 상기 유기발광다이오드 패널의 불량 여부를 판단하는 단계를 포함한다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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