특허명 | 반사 위상 현미경 | ||
출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2018년 4월 6일 |
공개일 | 2019년 10월 16일 | 공고일 | 2019년 12월 5일 |
요약 |
본 발명은 반사 위상 현미경에 관한 것이다. 본 발명의 반사 위상 현미경은 광을 조사하는 광원 유닛; 상기 광원 유닛에서 조사된 광을 샘플광 및 기준광으로 나누는 편광 분배기; 상기 샘플광을 상기 편광 분배기로 반사시키는 피검체부; 상기 기준광을 상기 편광 분배기로 반사시키는 기준 미러; 상기 광원 유닛에서 상기 편광 분배기를 향해 입사되는 광의 각도를 조절하여, 상기 피검체부에 입사되는 상기 샘플광의 입사각, 및 상기 기준 미러에 입사되는 상기 기준광의 입사각을 조절하는 스캐닝 미러; 상기 피검체부에서 반사된 상기 샘플광, 및 상기 기준 미러에서 반사된 상기 기준광을 회절시키는 회절 격자; 및 상기 회절 격자에서 회절된 광을 수광하는 영상 획득 유닛을 포함할 수 있다.
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특허명 | 출원일 | ||
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현미경 시스템 | 2017년 11월 29일 | ||
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무주사 방식의 단일 광섬유 내시경 장치 및 이를 이용한 이미지 획득방법 | 2012년 1월 6일 | ||
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