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통계적 공정 관리도를 이용하여 이상증후를 탐지하는 방법
| 특허명 | 통계적 공정 관리도를 이용하여 이상증후를 탐지하는 방법 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2011년 8월 19일 |
| 공개일 | 2013년 2월 27일 | 공고일 | 2013년 7월 3일 |
| 요약 |
본 발명은 통계적 공정 관리도를 이용하여 이상증후를 탐지하는 방법 및 그 방법을 기록한 기록매체에 관한 것으로, 본 발명에 따른 이상증후를 탐지하는 방법은, 정상 상태에서 네트워크 또는 시스템의 상태를 나타내는 보안 속성을 입력받고, 속성의 최근 발생 시기, 속성의 발생 빈도 및 속성의 발생 총량별로 보안 속성을 분류하고, 분류된 보안 속성에 따라 통계적 공정 관리도를 산출하며, 산출된 통계적 공정 관리도에 대한 임계 범위를 설정하고, 분류된 보안 속성에 따라 네트워크 또는 시스템의 보안 속성으로부터 실시간으로 통계적 공정 관리도를 산출하며, 실시간 통계적 공정 관리도가 임계 범위 내에 존재하는지 여부를 검사하여 네트워크 또는 시스템에 대한 이상 여부를 판단한다.
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관련 특허
| 특허명 | 출원일 | ||
|---|---|---|---|
| 자기 유사성을 이용한 SCADA 네트워크의 이상증후를 탐지하는 장치 및 방법 | 2011년 8월 19일 | ||
| 실시간 내장형 시스템을 위한 TTA 적용 방법 | 2012년 10월 30일 | ||
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