특허명 | 면적선량계를 내장하는 X선 조사야 제한장치 | ||
출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2012년 1월 20일 |
공개일 | 2013년 7월 30일 | 공고일 | 2014년 2월 12일 |
요약 |
본 발명은 면적선량계를 내장하는 X선 조사야 제한장치에 관한 것으로서, 본체와; 상기 본체의 내부에 설치되는 투광조준부와; 상기 본체의 내부에 설치되며, X선관 장치로부터 조사되는 X선의 조사영역을 조정하는 상부 X선 조사영역 조절부와; 상기 상부 X선 조사영역 조절부와 연동하여 상기 상부 X선 조사영역 조절부를 통과하여 입사되는 X선의 조사영역을 조정하는 하부 X선 조사영역 조절부와; 상기 상부 X선 조사영역 조절부 및 상기 하부 X선 조사영역 조절부 사이의 X선 조사 선상에 배치되어 상기 상부 X선 조사영역 조절부를 통과하여 입사되는 X선 선량을 측정하는 면적선량 센서와, 상기 투광조준부로부터 조사된 광을 X선 조사영역 방향으로 반사하는 거울이 구비된 면적선량 측정부를 포함한다. 이에 따라, 내부에 장착되게 면적선량계 센서를 소형화하여 설치하고, 그에 따라 X선 조사야 제한 장치의 전체적인 부피 및 무게를 줄임으로써 피검자에게 X선 촬상시 X선 조사야 제한장치의 위치 조작을 용이하게 할 수 있음과 동시에 동일한 성능의 면적선량계 센서의 크기를 축소함으로써 제조비용 단가를 낮출 수 있다.
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특허명 | 출원일 | ||
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