특허명 | 축차 비교형 아날로그/디지털 변환기 및 시간-인터리브드 축차 비교형 아날로그/디지털 변환기 | ||
출원인 | 삼성전기주식회사|고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2009년 11월 2일 |
공개일 | 2011년 5월 11일 | 공고일 | 2012년 3월 2일 |
요약 |
클록신호의 1 주기를 이용하여 아날로그 입력신호의 크기를 샘플링하고 유지하는 동작을 수행하는 샘플엔홀드부; 상기 샘플엔홀드부의 동작 주기에 이은 클럭의 1 주기 마다 상기 샘플엔홀드부에서 유지된 상기 아날로그 입력신호의 크기와 추정된 디지털값에 의해 결정되는 비교 대상 전압을 비교하는 제1 비교부; 상기 샘플엔홀드부의 동작 클럭의 후반 1/2 주기를 이용하여 상기 샘플엔홀드부에서 샘플링된 입력신호의 크기와 사전 설정된 기준전압의 1/2을 비교하는 제2 비교부; 상기 제2 비교부의 비교 결과에 따라 변환될 디지털값의 최상위 비트의 값을 결정하고, 상기 제1 비교부의 비교 결과에 따라 상기 최상위 비트의 다음 비트들의 값을 결정하며, 결정되지 않은 비트에 대해서 추정값을 적용하여 상기 추정된 디지털값을 생성하는 축차근사화 레지스터부; 및 상기 추정된 디지털값 및 상기 기준전압을 이용하여 상기 비교 대상 전압을 생성하는 디지털/아날로그 변환부를 포함하는 축차비교형 아날로그/디지털 변환기가 개시된다. 축차 비교, Successive Approximatio, 아날로그/디지털 변환기, ADC, 샘플엔홀드, 축차 근사화, 기준 전압, 최상위 비트, 비교
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특허명 | 출원일 | ||
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