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반도체 소자의 주파수 출력 특성 및 기계 학습을 이용한 반도체 소자 테스트 장치 및 방법
| 특허명 | 반도체 소자의 주파수 출력 특성 및 기계 학습을 이용한 반도체 소자 테스트 장치 및 방법 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2019년 11월 14일 |
| 공개일 | None | 공고일 | 2021년 3월 11일 |
| 요약 |
본 발명은 반도체 소자의 주파수 출력 특성을 기계 학습하여 반도체 소자를 테스트하는 기술에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 반도체 소자를 통해 출력된 전류 또는 전압의 파동을 측정하고, 측정된 파동에 MFCC 유사 필터를 적용하여 벡터 데이터를 2차원 어레이 데이터로 데이터 베이스를 구축하고, 구축된 데이터 베이스에 대한 기계 학습을 수행함으로써 반도체 소자의 조건을 결정에 대한 테스트 정확도를 향상시키는 기술에 관한 것이다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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