특허명 | 스펙트럼 분석기 및 스펙트럼 분석 방법 | ||
출원인 | 삼성전자주식회사|고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2019년 7월 31일 |
공개일 | 2021년 2월 15일 | 공고일 | - |
요약 |
스펙트럼 분석기는 입력 스펙트럼을 측정하기 위한 하나 이상의 센서를 포함하는 측정부; 및 상기 측정부의 성능으로부터 정의되는 특성 매트릭스 및 상기 측정부의 측정 결과로부터 상기 입력 스펙트럼을 복원한 복원 스펙트럼을 연산하는 프로세서;를 포함하며, 해상도가 개선된 복원 스펙트럼을 제공할 수 있다.
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특허명 | 출원일 | ||
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