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임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체
| 특허명 | 임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체 | ||
| 출원인 | 고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2010년 4월 21일 |
| 공개일 | 2011년 10월 27일 | 공고일 | 2012년 5월 24일 |
| 요약 |
임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템, 방법, 및 상기 방법을 실행시키기 위한 컴퓨터 판독 가능한 프로그램을 기록한 매체가 개시된다. 임피던스 및 잡음 특성 동시 측정 시스템은 전기 신호 인가부, 응답 신호 측정부, 임피던스 특성 산출부, 및 잡음 특성 획득부를 포함한다. 전기 신호 인가부는 측정 대상에 직류 및 미리 설정된 복수 주파수의 교류 전기 신호를 동시에 인가하고, 응답 신호 측정부는 측정 대상으로부터 인가한 전기 신호에 대한 응답 신호를 측정하고, 임피던스 특성 산출부는 미리 설정된 주파수 범위에 대해 응답 신호의 전류, 전압의 크기와 위상 차이를 이용하여 등가 모델로 제시된 각각의 임피던스 값을 산출하며, 잡음 특성 획득부는 응답 신호의 전력 중 직류 전기 신호로 인해 발생하는 잡음 전력만을 획득한다. 이와 같이, 측정 대상에 직류 및 복수 주파수의 교류 전기 신호를 동시에 인가하여 임피던스 특성과 잡음 특성을 구함으로써, 1차원 나노선과 같은 민감한 물질에 대해서도 적은 비용으로 빠르고 정확하게 임피던스 특성과 잡음 특성을 측정할 수 있게 된다.
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| 특허명 | 출원일 | ||
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