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광 검출기 선택 장치 및 방법과, 산란계수 측정 장치 및 방법
| 특허명 | 광 검출기 선택 장치 및 방법과, 산란계수 측정 장치 및 방법 | ||
| 출원인 | 삼성전자주식회사|고려대학교 산학협력단 | 출원일 | 2017년 7월 27일 |
| 공개일 | 2019년 2월 11일 | 공고일 | - |
| 요약 |
광 검출기 선택 장치 및 방법과, 산란계수 측정 장치 및 방법이 개시된다. 일 양상에 따른 산란계수 측정을 위한 광 검출기 선택 장치는, 피검체에 광을 조사하는 광원과, 상기 피검체로부터 반사 또는 산란된 광을 검출하고 검출된 광의 강도(intensity)를 측정하는 광 검출기 어레이와, 상기 피검체의 산란계수 변화에 따른 광 검출기별 측정 강도 변화에 기초하여, 상기 광 검출기 어레이에서 산란계수 측정을 위한 복수의 광 검출기를 선택하는 프로세서를 포함할 수 있다.
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